Advanced measurement and test : selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China /
| Автор-организации: | International Conference on Advanced Measurement and Test Sanya Shi, China) |
|---|---|
| Други автори: | Wu, Yanwen. |
| Формат: | Електронна книга |
| Език: | English |
| Публикувано: |
Stafa-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
℗♭2010.
|
| Серия: |
Key engineering materials ;
v. 439-440. |
| Предмети: | |
| Онлайн достъп: |
http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=503522 |
| Подобни документи: |
Print version::
Advanced measurement and test. |
| Онлайн достъп от Библиотека ”Паница” на Американския университет в България: |
http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=503522 |
|---|
| Провери в Paniza Library, AUBG | Сигнатура: |
TA1 .K5 v.439-440 |
|---|