Untersuchung elektronischer zustände an röntgenbestrahlten silizium/oxid-grenzflächen mittels admittanzmessungen : Diss. /
| Основен автор: | Voland, Gert |
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| Формат: | Книга |
| Език: | German |
| Публикувано: |
Darmstadt :
Technischen Hochschule Darmstadt,
1977.
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| Налични ИЯИЯЕ | Сигнатура: |
IX 592 |
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