Корично изображение Книга

Тестови структури в микроелектрониката /

Основен автор: Господинова-Далчева, Минка
Други автори: Георгиев, Николай, Филипов, Филип
Формат: Книга
Език: Bulgarian
Публикувано: София: ТУ, 1999
Предмети:
Провери в БИЦ - Заемна Сигнатура: 11186
Провери в БИЦ - Свободен достъп Сигнатура: 621.382/Г 70