ISTFA 2011 conference proceedings from the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California /
| Автор-организация: | International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif.), Electronic Device Failure Analysis Society., International Symposium for Testing and Failure Analysis/2011., ASM International. |
|---|---|
| Формат: | Електронен |
| Език: | English |
| Публикувано: |
Materials Park, OH :
ASM International,
2011.
|
| Предмети: | |
| Онлайн достъп: |
http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=438625 |
| Подобни документи: |
Print version::
ISTFA 2011. |
| Онлайн достъп от Библиотека ”Паница” на Американския университет в България: |
http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=438625 |
|---|
| Провери в Paniza Library, AUBG | Сигнатура: |
TK7801 .A241 2011eb |
|---|