Технологично-индуцирани радиационни дефекти в силициеви микроелектронни структури : Дисертация за присъждане на научна степен "Доктор на техническите науки" по научна специалност 02.20.02 "Микроелектроника" /
| Основен автор: | Александрова, Сашка Петрова |
|---|---|
| Формат: | Глава |
| Език: | Bulgarian |
| Публикувано: |
София,
2009
|
| Предмети: |
| Провери в БИЦ - Заемна | Сигнатура: |
1029 |
|---|