ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /
| Автор-организация: | International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif.), ASM International., Electronic Device Failure Analysis Society., ebrary, Inc. |
|---|---|
| Формат: | Електронен |
| Език: | English |
| Публикувано: |
Materials Park, OH :
ASM International,
c2005.
|
| Предмети: | |
| Онлайн достъп: |
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Онлайн достъп от Библиотека ”Паница” на Американския университет в България: |
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
|---|
| Провери в Paniza Library, AUBG | Сигнатура: |
TK7871 .I63 2005eb |
|---|